在我们即将转入可靠性测试之前，有一个问题一定令读者朋友们感到奇怪：我们在25日就预报了关于爱国者优递卡的可靠性测试，算起来已经后延了一周时间，这是为什么呢？其实，关于优递卡的可靠性测试我们持续了一个多月，相信这一定使读者朋友们感到惊讶。这么测试的原因主要是考虑到现今的FLASH芯片的工业特点：因为FLASH在反复使用中，FLASH往往会表现出不稳定，重要的是，FLASH的使用寿命比标称寿命有较大不同！出于对这个问题的忧虑，进行严格的、长时间的可靠性跟踪是必要的。
   另外，为了对优递卡进行可靠测试，采取恶化使用状态、加速故障暴露的实验方案是必需的，出于这个目的，第三媒体网将开发一个专门的测试软件来进行USB存储器的可靠性测试。

  五、可靠性测试：
   1、长效使用测试
   对不少FLASH存储器消费者而言，他们并没有大量的频繁读写操作，也正是这样，FLASH的可靠才能保证。这并不好笑，有经验的朋友都知道：最常用作移动存储的软盘读写几次就不行了，与软盘相比，FLASH的读写寿命就长多了；不过，FLASH芯片也不够完美，特别是对FLASH有使用经验的研发工程师都知道，FLASH芯片的实际擦写寿命与其标称值有较大出入。也正是这个原因，使我们认识到基于FLASH芯片的各类存储器的可靠性问题的重要性。
   值得重视的是，移动存储器普遍的使用方式都是擦写频率比较低的，与实验室为调试电路而反复擦写FLASH的使用方式有很大不同。
   为了对本次送测的爱国者优递卡的可靠性测试做到家，针对FLASH的特点，延长测试时间以换取测试结论可信度的方案获得了网站批准，为此我们提交的测试方案如下：连续进行一个月的长效使用测试，为模仿普通消费者的使用频率，我们每天平均做2次读写操作。当然，我们的目的就是看看这种非常接近普通用户的使用模式下，优递卡能否提供稳定可靠的存储功能。
   下面是测试记录：

    测试结论：
        测试方案模仿了普通消费者的随机性读写操作。一个月漫长的跟踪使用测试，没有发现优递卡的任何读写故障发生。

   2、2小时连续无间歇读写测试
     经过上面的测试后，一个重要的问题放在了我们面前：漫长的一个月跟踪测试，读写频率并不高，虽然它能直接模仿消费者的普通使用环境，但是却无法加速暴露可能的硬件故障，这该怎么处理呢？很明显，我们需要进行连续不休止的读写测试以加速可能的硬件故障暴露。在这个测试中，我们将无间歇地反复擦写优递卡，为了实现这个测试方案，我们将使用C++编写一个测试软件，它能够高强度快速擦写优递卡，并且能够自动识别写入USB存储器数据是否可靠；一旦发现硬件故障，这个测试软件将会返回错误信息。
     测试中，我们采用的测试读写片断大小为：3033671字节（约3MB）。下面是测试截图：

   很明显，这张截图的选取时刻在第165次循环测试中，并且正在跑比较进程。
   我们一起来看测试最后的截图：

    测试结论：
        从截图上可以得到如下数据：测试起始时间15:41:05，测试结束时间17:44:49，优递卡被连续擦写/读取了309次（写309次，擦除308次，读309次），持续无间歇工作时间为2小时3分钟。2小时的连续测试中，比较进程没有发现任何的读写故障，优递卡的数据可靠性是值得肯定的。不过，连续进行无间歇2小时的读写操作后，我们发现优递卡的USB接口已经微微发烫。

   3、数据防写测试
    虽然软盘逐渐没落，但是软盘并非一无是处，例如很多朋友就仍然对软盘上的防写拨杆非常推崇，确实，这个小小的机械拨杆为不少人带来了实利，避免了不少操作错误、人员马虎等原因导致的数据丢失问题。值得庆幸的是，爱国者优递卡仍然保留了这个重要功能。它的防写拨杆照片我们在第一讲中已经给出，请参考。
    当把防写拨杆推到有锁的一段，就可以实现防写功能。请看这是向防写的优递卡写入的信息：

   防写的优递卡避免了本次写入操作。
   值得重视的是，移动存储器为了保证数据可靠，一般都不允许如果移动存储器上有打开文件时移走存储器，因为这会导致打开文件的内容受损；我们注意到，优递卡支持这个功能，并且通过操作系统给出了提示，下面是截图：

   测试结论：
      爱国者优递卡支持防写操作，并对移动存储器应当注意的打开文件条件下移走存储器的问题进行了处理。

   4、抗震性能测试
   从移动硬盘到软盘，磁介质的抗震性能低下相信是需要移动办公的朋友最深恶痛绝的，特别是3英寸软盘更是脆弱。FLASH介质的系列USB存储器的诞生，使得移动存储器的抗震性能大大前进了一步，毕竟这些USB存储器使用的介质是FLASH芯片，天然就比磁介质抗震可靠。
   为了测试优递卡的抗震性能，我们做了一个简单的实验：1米高度自由落体，木质地板。
   放落前的照片：

   放落中的照片：

  摔落地面后，我们重新把这片优递卡连接到USB接口上，测试发现：优递卡的数据仍然正常。我们知道，对于磁盘来说从这个高度衰落地面就相当危险了。

  六、测试结论：
   我们对爱国者优递卡的总体评价：
   技术创新：5分，开辟了双存储界面。
   数据传输率：4.5分，受制于V1.1 USB接口自身的效能。
   可靠性：4.5分，通过了抗震测试、连续2小时无间歇擦写测试、一个月可靠性测试
   功能性：3分，未能及时推出Device界面设备，使优递卡的独特功能得不到体现。
   外观形象：5分，优递卡精巧漂亮；如果可能的话，配套的接口卡的尺寸可以减短。

   七、后记
    优递卡推出后，双存储界面的设计一举突破了移动存储、数码媒介两大类产品的数据交换问题。但是，一种代表着新思想、新理念的产品在推介之初往往会遇到很大的惯性阻力，既有利益成为阻碍新产品推广的最重要因素。毫无例外，采用双界面设计的优递卡同样会面临这样的难题，所以推动各类FLASH设备采用兼容优递卡Device界面的道路并不平坦。不过，近期我们从华旗了解到，已经有百多家公司计划采用优递卡Device界面！（第三媒体网 2002－01－05） （全文结束）